Hall -Effekt -Gerät

Fortschrittliche Plattform für elektrische Transportcharakterisierung

Der DX -3000 ist eine multifunktionale Testplattform, die für die umfassende Analyse der Elektrotransporteigenschaften entwickelt wurde. Es kombiniert Hall -Effekt, Magnetoresistenz und IV -Charakterisierung in einem einzigen integrierten System. Durch die Optimierung der Instrumentenauswahl und die Beseitigung der manuellen Verkabelungskomplexitäten (Raum-/Tenperatur-Setups) optimiert sie die Datenerfassung für Präzision und Wiederholbarkeit. Kompatibel mit Elektromagneten oder supraleitenden Magneten (Benutzerkonfigurierbar) und unterstützt intelligente Probensonden und anpassbare Software für schnelle, automatisierte Messungen.

• Effizienter Workflow: Modulare Beispielkarten ermöglichen eine schnelle Installation (unterstützt 2–4 Proben gleichzeitig mit Add-Ons).
• Breiter Messbereich: Widerstandsanalyse von 0. 1mΩ bis 100 g Ω (erweiterbar über Hochspannung/Impedanzmodule).
• Adaptive Tests: Programmierbare Strom-/Magnetfeldparameter für dynamische Hall- und Widerstandsbewertungen.
• Echtzeitvisualisierung: Automatische Software generiert intermediäre Ergebnisse, Kurven (IV, RT, RH) und endgültige Parameter (Trägerdichte, Mobilität, Blechwiderstand).
• Magnetische Flexibilität: Nullfeldstabilisierung, langfristige Feldstabilität und schnelle Feldkontrolle über integrierte Gauß-Messgeräte.
• Temperatur Vielseitigkeit: Optionale kryogene Module (1,6K - 800K) für Studien zur variablen Umgebung.

• Halbleiter: Sige, Ingaas, Hgcdte, SIC, Algaas usw.
• Leitfähige Filme: Metalle, TMR -Strukturen, transparente Oxide.
• Hochzeits-Substrate: Semi-inselle Gaas, Cdte, Gan.

1. Hall -Effekt -Analyse:
   Ausgänge: Widerstand, Hallkoeffizient, Trägertyp/-konzentration, Mobilität.
2. Magnetoresistenzprofilierung:
   Metriken: ΔR, ΔR/R%, Rh -Kurven.
3. Dynamische Charakterisierung:
   IV -Kartierung bei variablen Temperaturen/Feldern.
   Temperaturabhängiger Widerstand (RT) unter festen Feldern.

Elektrische Module: Keithley Precision Instruments (aktuelle Quellen, Nanovoltmeter, Schaltermatrizen).

Magnetoptionen:

• Dx -100: 1,5 t max (60 mm Pol, ± 1% Gleichmäßigkeit).
• Dx -130: 2,5T Max (100 mm Stange).
• Dx -180: 2,7T Max (120 mm Stange).

Wärmekontrolle(Optional):

Flüssiger Stickstoff (80–500K), Kryostate (4–325K), kompakte Kühlschränke (45–325K).

Probenabmessungen:

• Kleine/Sondenkarten: 12x12mm² bis 30 x 30 mm².
• Große Karten: 50x50 mm².

Elektrische Grenzen:

• Strom: ± 100pa - 100 mA (Auflösung: 100pa).
• Spannung: ± {{0}}. 1μv - 30V (Auflösung: 0,1μv).
• Max -Trägerdichte: 1 × 10¹⁸ cm⁻³.

Genauigkeitskriterien:

• Feld/Dicke Unsicherheit<1%.
• Optimales Verhältnis von B-Feld/Dicke: 1T/mm.

• Probenvorbereitung: Unterstützt 4-/{6- Kabelkonfigurationen.
• Software: Vollständige Automatisierung mit Datenprotokollierung, Kurvenanpassung und Parameterextraktion.
• Einhaltung: Niedriger Stromverbrauch (<1mV sample excitation).

F & E. Semiconductor, magnetische Materialstudien, Dünnschicht-Gerätevalidierung und Wissenschaft für fortschrittliche Materialien.

(Hinweis: Benutzerdefinierte Konfigurationen für vorhandene Labor -Setups oder spezielle Anforderungen verfügbar.)