Magnetfeldsondenstation

 

Diese kryogene Teststation (optional: hohe Temperatur, niedrige Temperatur, Vakuum, Magnetfeld) ist eine hochpräzise, ​​multifunktionale Experimentalplattform zum Testen der elektrischen und magnetischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien, Mikro-Nano-Geräten, magnetischen Materialien, spintronischen Geräten und verwandten technischen Bereichen.

 

 

1. Hochpräzise Experimentierplattform: Die Prüfstation verfügt über einen Prüfarm mit hochpräziser Verschiebung, mit dem winzige Proben präzise bedient und getestet werden können.

2. Multifunktionskonfiguration: Je nach Benutzerbedarf können Hochtemperatur-, Niedertemperatur-, Vakuum-, Magnetfeld- und andere Konfigurationen ausgewählt werden, um den Anforderungen verschiedener komplexer Versuchsumgebungen gerecht zu werden.

3. Hochstabiles Magnetfeld: Durch ein sorgfältig entwickeltes Magnetfeldsystem in Kombination mit einer hochpräzisen bipolaren Konstantstromversorgung wird die hohe Stabilität des Magnetfelds gewährleistet.

4. Design des Verschiebungstisches: Der Verschiebungstisch ist mit einer magnetischen Flüssigkeitsdichtung ausgestattet, um eine zweidimensionale Bewegung und eine 360- Grad-Drehung des Probentisches in horizontaler Richtung zu erreichen, und die Bedienung ist flexibel und bequem.

5. Mikroskopische Beobachtung: Ausgestattet mit einem hochpräzisen Elektronenmikroskop können Benutzer winzige Proben bequem im Detail beobachten und bearbeiten.

 

 

Diese Prüfstation wird häufig in den Bereichen Halbleiterindustrie, mikroelektromechanische Systeme, Supraleitung, Elektronik, Ferroelektronik, Physik, Materialwissenschaft und Biomedizin eingesetzt, unter anderem in:

Magnetischer Leistungstest

Mikrowellen-Leistungstest

DC-, HF-Leistungstest

MEMS-Leistungstest

Supraleitender Leistungstest

Photoelektrischer Leistungstest von Nanoschaltkreisen, Quantenpunkten und Drähten

Chiptest in Hoch- und Niedertemperatur-Vakuumumgebung

Materialprüfung

Hall-Test

Leistungstest für elektromagnetischen Transport usw.

 

 

Um den Anforderungen verschiedener Benutzer gerecht zu werden, bieten wir eine Reihe optionalen Zubehörs an, darunter:

Verschiedene DC-Sonden, Hochfrequenz-Sonden, aktive Sonden

Kabelgebundenes CCD- oder C-MOS-Videobildgerät

Saugnapf-Bewegungsvorrichtung Elektromagnetsystem/supraleitendes Magnetsystem

Upgrade des 1-MPa-Überdrucksystems

Upgrade-Option für Ultrahochtemperatur

Upgrade-Option für Ultrahochvakuum

Verschiedene Sondenhalterungen

Abgeschirmter Antivibrationstisch

Adapter

Leise Vakuumpumpe usw.

 

 

Hoch- und Niedertemperatur-Vakuum-Magnetfeldsondenstation
Modell	DXTPS1	DXTPS2	DXTPS3 (Englisch)
Vakuumgrad	Maximales Vakuum 10-8Pa
Hohlraummaterial	Nicht magnetischer Edelstahl oder Aluminiumlegierung
Magnetfeldbereich	2000Gs bei 50 mm	5000Gs bei 50 mm	1T @ 50 mm
Magnetische Feldrichtung	horizontal (kann in vertikaler Richtung nach Benutzeranforderungen gestaltet werden)
Stromversorgung	Bipolare Stromversorgung ± 50A	Bipolare Stromversorgung ± 70A	Bipolare Stromversorgung ± 90A
Stabilität der Stromversorgung	50 ppm optional 10 ppm
Kühlbetrieb	Kühlung mit flüssigem Helium/flüssigem Stickstoff/Kühlschrank mit geschlossenem Kreislauf
Temperaturbereich	5 K-325K optional 500K
Temperaturbereich	65 K-325K optional 600K
Temperaturregelungsauflösung	0.001K Temperaturregler bezogen
Temperaturstabilität	besser als 0,1K je nach Temperaturregler
Temperatursensor	Siliziumdiode/PT 100
Sensoren	Ein Probentisch, ein Strahlungsschirm und ein Probenarm.
Beispieltabellengröße (max.)	Φ50mm, Ebenheit kleiner oder gleich u7m
Beispiel einer Tischbefestigungsmethode	Vakuum-Silikonfett-/Federpressen
Beispieltischmaterial	vergoldetes sauerstofffreies Kupfer
Mikroskop Reisen	X-, Y-Ebene 2 x 2 Zoll, Genauigkeit 1 µm, Z-Achsen-Verfahrweg größer oder gleich 50,8 mm
Vergrößerung	16 ~ 100X/20 ~ 4000X
Größe des Beobachtungsfensters der Vakuumkammer	1 Zoll	1,5 Zoll	2 Zoll
Fenstermaterialien	Quarzglas (optional K9, Calciumfluorid usw.)
Anzahl Tastarme	2% 2C 4% 2C 6% 2C 8 Fakultativ
Tastarmweg	25 mm-25mm-12mm auswechselbar
Mechanische Genauigkeit	10µm/ 2µm/ 1µm/ 0,7µm
Schnittstellenformular	Gewöhnliche Vakuumverbindung/drei Koaxialverbindungen/BNC/SMA usw.
Sondendurchmesser	0,51 mm
Durchmesser der Nadelspitze	10 um/ 5 um/ 1 um optional
Sondenmaterial	Wolfram/GGB
Versorgungsspannung	Wechselstrom 220 V, 50 Hz/60 Hz	Wechselstrom 380 V, 50 Hz/60 Hz

 

Parameterbestätigung vor dem Kauf:

 

Die maximale Zollanzahl der zu testenden Wafer oder Geräte; ob Fragmente oder einzelne Chips getestet werden müssen; die kleinste Einzelchipgröße;

Wie hoch sind die Anforderungen an die mechanische Präzision der Messstation?

Die Elektrodengröße der Punktmessprobe: 100 μm x 100 μm oder 60 μm x 60 μm Pad oder das von FIB hergestellte Mini-Pad oder die Metallschaltung im IC;

Für eine Punktmessung werden maximal mehrere Sonden gleichzeitig benötigt;

Ob der Probecard-Test verwendet wird;

Wie hoch ist die erforderliche Mindestauflösung des optischen Mikroskops?

Ist es im Hinblick auf die Mikroskopie notwendig, einen Polarisator für die Hotspot-Erkennung von LC-Flüssigkristallen hinzuzufügen?

Ob der Strombedarf während des Probe-Spot-Tests 100fa oder weniger erreicht! Muss die niedrige Kapazitätsanforderung 0,1pf betragen? Ob eine Hochfrequenzanforderung besteht;

Welche Schnittstellen sind beim angeschlossenen Prüfgerät vorhanden?

Ob beim Testen der Umgebung Heizung oder Kühlung erforderlich ist! Ob ein geschlossener Hohlraum erforderlich ist;

Was ist mit den Leckageanforderungen von Chuck? Müssen Sie einen Chuck mit niedriger Impedanz hinzufügen?

Ob ein Anti-Schock-Tisch erforderlich ist;

Wenn Sie einen stoßfesten Tisch hinzufügen, achten Sie darauf, ob Druckluft vorhanden ist.

 

Weitere Bilder der kryogenen Sondenstation

 

 

 

Wir sind uns der Schlüsselrolle der Logistik bei der Steigerung des Einkaufserlebnisses bewusst und haben uns daher dazu verpflichtet, effiziente, sichere und zuverlässige Logistik- und Transportnetzwerke zu entwickeln, die auf Sie zugeschnitten sind. Wir haben langfristige und leistungsstarke Partnerschaften mit vielen namhaften Logistikanbietern aufgebaut, um sicherzustellen, dass Ihre Produkte rechtzeitig und sicher an ihrem Bestimmungsort ankommen. Darüber hinaus bieten wir einen umfassenden Tracking-Service, damit Sie den Transportstatus des Produkts nachvollziehen können. Unsere Kunden stehen bei uns an erster Stelle, wir sind ständig bestrebt, die Servicequalität zu verbessern und Ihnen ein hervorragendes Einkaufserlebnis zu bieten.

 

 

Frage 1: Welche Eigenschaften besitzen Hoch- und Niedertemperatur-Vakuumsonden im Hinblick auf Mikrobeobachtungs- und Bildgebungsfunktionen?

Antwort:

1. Hohe Auflösung: Der Prüftisch ist mit einem hochauflösenden Mikroskopsystem ausgestattet, mit dem das Aussehen und die Struktur der Oberfläche der Probe in Echtzeit beobachtet werden können. Dies ist für die Erscheinungsmerkmale, die Defektanalyse und die Materialdarstellung von Forschungsgeräten von entscheidender Bedeutung.

2. Bildgebungsfunktionen: Mikroskopsysteme verfügen normalerweise über verschiedene Bildgebungsmodi, z. B. optische Bildgebung, elektronische Bildgebung usw., um verschiedenen Proben und experimentellen Anforderungen gerecht zu werden. Diese Bildgebungsmuster können umfassende Bildinformationen liefern und Forschern helfen, die Beschaffenheit der Probe zu verstehen.

 

 

Frage 2: Welche Funktionen hat die Datenerfassungs- und Analysesoftware in Hoch- und Niedertemperatur-Vakuumsonden?

Antwort:

1. Echtzeiterfassung: Der Prüftisch muss mit fortschrittlicher Datenerfassungs- und Analysesoftware ausgestattet sein, um eine Echtzeiterfassung von elektrischen, Mikro- und Materialanalysedaten zu erreichen.

2. Verarbeitung und Analyse: Datenerfassungssoftware verfügt normalerweise über mehrere Datenverarbeitungs- und Analysefunktionen, wie z. B. Bildverarbeitung, Datenanpassung und dreidimensionale Rekonstruktion.

 

 

Frage 3: Welche Eigenschaften haben Hoch- und Niedertemperatur-Vakuumsonden im Hinblick auf Mikrobeobachtungs- und Bildgebungsfunktionen?

Antwort:

Hohe Auflösung: Der Prüftisch ist mit einem hochauflösenden Mikroskopsystem ausgestattet, mit dem das Aussehen und die Struktur der Oberfläche der Probe in Echtzeit beobachtet werden können. Dies ist für die Aussehensmerkmale, die Defektanalyse und die Materialdarstellung von Forschungsgeräten von entscheidender Bedeutung.

Bildgebungsfunktionen: Mikroskopsysteme verfügen normalerweise über verschiedene Bildgebungsmodi, z. B. optische Bildgebung, elektronische Bildgebung usw., um unterschiedlichen Proben und experimentellen Anforderungen gerecht zu werden.